檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "Chung-Feng Kuo".eadvisor (精準) and ckeyword.raw="適應性模板"
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本研究針對發光二極體晶粒之表面微影圖樣進行適應性模板建立並檢測其圖樣正確性之研究。由於產業界之自動化檢測為達到產線上高產能,在演算法系統開發上大都採以標準模板進行瑕疵比對以達高檢測速度,而在實際晶粒…
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本研究主要針對彩色濾光片微觀瑕疵進行辨識與分類,檢測的瑕疵種類分為微粒(Grain)、黑色矩陣破洞(Black Matrix Hole, BMH)、透明導電膜(Indium Tin Oxide, I…